ISO發布決定顆粒大小和形狀分布的納米技術新標準



國際標準化組織（ISO）最近發布了一項標準，該標準為納米技術領域提供了重要的指南，特別是在掃描電子顯微鏡（SEMs）的使用方面：ISO 19749:2021《納米技術——通過掃描電子顯微鏡測量顆粒大小和形狀分布》。



測量納米顆粒的粒度和形狀對于了解其性能和在許多應用中的潛在用途至關重要。本項國際標準詳細介紹了使用掃描電子顯微鏡（SEM）進行數據收集和分析，以確定納米顆粒的大小和形狀，其結果具有高度可重復性。掃描電子顯微鏡通過在表面掃描聚焦的電子束產生圖像，并傳遞各種信號來指示電子束中的電子如何與材料相互作用，從而提供有關材料表面組成和形貌的重要信息。掃描電子顯微鏡在許多研究、開發和制造領域，包括納米技術領域都是不可或缺的，并得到了廣泛的應用。



新標準涉及離散和聚集納米物體（納米尺度上至少有一個維度的材料，即在1nm到100nm范圍內）的兩個形態屬性——大小和形狀。此外，ISO標準將得到廣泛應用，因為世界范圍內使用了許多掃描電子顯微鏡(SME)，使其成為納米尺度測量不可或缺的“主力軍”。



ISO 19749是由ISO/TC229“納米技術”技術委員會的“測量和表征”第二聯合工作組（JWG2）制定。該項目是由NIST的安德拉斯·弗拉達爾（Andras Vladar）博士（美國）和JEOL的佐藤友志（Tomoshige Sato）博士（日本）牽頭，來自法國、德國、日本和墨西哥的國際專家為其做出了重要貢獻。



ANSI認可的對口ISO/TC 229“納米技術”技術委員會主席弗拉基米爾·穆拉肖夫（Vladimir Murashov）說道：“隨著ISO 19749:2021的發布，美國對口ISO TC 229的技術咨詢小組（TAG）繼續牽頭制定以嚴格描述納米顆粒的兩個最基本特征（即大小和形狀）等基礎標準。這些基礎標準對于進一步推進研究和開發是必要的，最終目標是釋放納米技術的巨大潛力，以解決世界面臨的最緊迫挑戰。”



本標準作為ISO 21363《納米技術——通過透射電子顯微鏡測量顆粒大小和形狀分布》的配套文件，于2020年出版，由已故的埃里克·格魯克（Eric Grulke）博士牽頭制定。